在光源的后方设置偏光操作光学系统,可输出任意偏光状态的光束。
可选择直线偏光,圆偏光,椭圆偏光以及长短轴比例,转动方向等。
可用计算机动态控制。便于评估具有偏光依存性的样品,或在光路后部进行偏光补偿。
计测和解析入射光束偏光状态的装置。
可求入射偏光的斯托克斯参数S0~S3。
任意偏光光源,样品保持机构,偏光测定装置的组合,可完成样品的特性的测定。
可构建透过型或反射型。
反射型即可测偏光特性,也可用作椭圆偏振光法(Elipsometry)。
内部应变检查装置可观测纹理,加工应变等,样品内部的应变的装置。
可把内部应变的分布和变化录像。
承接生产设备或测定装置,专用装置的开发制造主要部件选用样本上的标准产品,既经济,又容易保证质量和性能。
只需添置一些配合专用设备的零部件就可完成开发,效率高,容易实现个性化研发。
采用立式透过光学系统的偏光光学件特性评价系统
只需把被测样品放置到台架上就可完成测定。
可测定分光相位差,偏光分光特性,透过偏光比等。
|手机版|搜索|焦点光学|光电工程师社区
( 鄂ICP备17021725号-1 鄂网安备42011102000821号 )
Copyright 2015 光电工程师社区 版权所有 All Rights Reserved.
申明:本站为非盈利性公益个人网站,已关闭注册功能,本站所有内容均为网络收集整理,不代表本站立场。如您对某些内容有质疑或不快,请及时联系我们处理!
© 2001-2022 光电工程师社区 网站备案号:鄂ICP备17021725号 网站公安备案号:鄂42011102000821号 Powered by Discuz! X3.2
GMT+8, 2025-12-16 18:20