现向大家推荐美国SCI公司的薄膜测试仪器,本公司的测试器广泛应用于半导体,光电子,数据存储,显示器,MEMS等工业领域.<p></p>. <B>Measurement Features<p></p></B></P>
<B>测量特征</B><B><p></p></B></P><B>FilmTek™ 1000<p></p></B></P><B>FilmTek™ 1500<p></p></B></P><B>FilmTek™ 2000<p></p></B></P><B>FilmTek™ 3000<p></p></B></P><B>FilmTek™ 2000SE<p></p></B></P><B>FilmTek™ 4000<p></p></B></P>Index of Refraction折射指数
(at 2µm thickness) <p></p></P>±0.005<p></p></P>±0.005<p></p></P>±0.002 <p></p></P>±0.002<p></p></P>±0.0002 <p></p></P>±0.00002 <p></p></P>Thickness Measurement Range<p></p></P>
厚度测量范围<p></p></P>10nm-150mm <p></p></P>10nm-150mm <p></p></P>5nm-150mm <p></p></P>5nm-150mm <p></p></P>1Å-150mm <p></p></P>3nm-350mm <p></p></P>Maximum Spectral Range <p></p></P>
最大光谱范围<p></p></P>380-1000nm<p></p></P>380-1000nm<p></p></P>190-1700nm<p></p></P>190-1700nm<p></p></P>190-1700nm<p></p></P>190-1700nm<p></p></P>Standard Spectral Range<p></p></P>
标准光谱范围<p></p></P>380-1000nm<p></p></P>380-1000nm<p></p></P>240-860nm <p></p></P>240-860nm <p></p></P>240-1000nm<p></p></P>380-1000nm<p></p></P>Reflection反射测量<p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Transmission透射测量<p></p></P> <p></p></P><p></p></P> <p></p></P><p></p></P> <p></p></P> <p></p></P>Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量<p></p></P> <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P><p></p></P><p></p></P>

ower Spectral Density<p></p></P>
功率谱密度测量<p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量<p></p></P> <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P><p></p></P>Both TE TM Components of Index <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P> <p></p></P><p></p></P>Multi-layer thickness<p></p></P>
多层厚度测量<p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Index of Refraction<p></p></P>
折射系数测量<p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数<p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Energy band gap<p></p></P>
能量带隙测量<p></p></P> <p></p></P> <p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Composition成分测量<p></p></P> <p></p></P> <p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Crystallinity晶状测量<p></p></P> <p></p></P> <p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Inhomogeneous Layers<p></p></P>
非均匀层测量<p></p></P> <p></p></P> <p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P>Surface Roughness<p></p></P>
表面粗糙度测量<p></p></P> <p></p></P> <p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P><p></p></P> 如有问题请与我们联系:0755-83342710,或:13632712541. Email:zoupuhong@chinecnet.com
邹普红